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短波长X射线体应力无损分析仪研制成功

  • 发布时间:2015-10-18 01:30:38  来源:科技日报  作者:佚名  责任编辑:罗伯特

  ■最新发现与创新

  科技日报绵阳10月17日电 (蒲江 记者盛利)17日由四川省科技厅、四川省经信委组织的短波长X射线衍射分析技术科技成果暨短波长X射线体应力无损分析仪新产品鉴定会,在四川江油举行。经现场鉴定,由中国工程物理研究院研究员、中国物理学会X射线衍射联合委员会主任麦振洪,清华大学材料学院院长张政军等9位专家组成的鉴定委员会一致同意该技术通过科技成果验收,属国际首创。

  短波长X射线体应力无损分析仪是由中国工程物理研究院材料研究所、四川艺精科技集团有限公司、中国兵器工业第五九研究所联合完成的用于测量材料残余应力的分析设备。与普遍X射线应力分析仪仅能获得材料表层约10微米深的应力分析结果不同,该分析仪采用W靶或U靶X射线源,特征X射线波长分别为0.2埃和0.1埃左右,测试铝材当量厚度大于40毫米,无应力铁粉测试误差小于20兆帕。该分析仪可在无损的情况下对材料内部应力分布情况进行定量分析,与同类型的中子衍射、同步辐射装置等大型装置相比,其造价低廉、使用方便。

  “该技术属国际首创,获得2项国际专利授权,4项国内专利授权。”鉴定意见指出,研究团队采用特殊的X射线光路设计,改善了入射X射线强度的衰减。采用透射式和反射式的光路设计,获取材料内部结构沿深度分布的信息,可满足工程构件的测试需求。

  该分析仪可广泛应用于装备制造、国防军工等领域。目前已创造经济效益696万元,研发团队已形成年产15台套的能力。

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